(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211140547.2 (22)申请日 2022.09.20 (71)申请人 中科视语 （北京） 科技有限公司 地址 102300 北京市门头沟区石龙 经济开 发区永安路20号3号楼 A-6193室 (72)发明人 王金桥　朱炳科　赵朝阳　陈盈盈　 (74)专利代理 机构 北京路浩知识产权代理有限 公司 11002 专利代理师 李文清 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/46(2022.01) G06V 10/54(2022.01) G06V 10/56(2022.01) G06V 10/774(2022.01)G06V 10/80(2022.01) (54)发明名称 超晶板底漆检测方法、 装置、 电子设备及存 储介质 (57)摘要 本发明涉及机器视觉技术领域， 提供一种超 晶板底漆检测方法、 装置、 电子设备及存储介质， 首先获取待检测超晶板的目标图像； 然后将目标 图像输入至底漆检测模型， 得到底漆检测模型输 出的待检测超晶板上是否附着有底漆的检测结 果。 由于采用了底漆检测模型， 结合目标图像与 预设超晶板图像的差异特征对待检测超晶板上 是否附着有底漆进行自动检测， 并可以提高检测 效率， 降低工作人员的工作量， 节约人力成本 。 权利要求书2页 说明书14页 附图4页 CN 115222737 A 2022.10.21 CN 115222737 A 1.一种超晶板底漆 检测方法， 其特 征在于， 包括： 获取待检测超晶板的目标图像； 将所述目标图像输入至底漆检测模型， 得到所述底漆检测模型输出的所述待检测超晶 板上是否附着有底漆的检测结果； 其中， 所述底漆检测模型基于携带有底漆标签的超晶板 图像样本训练得到， 所述底漆 检测模型用于基于所述 目标图像与预设超晶板图像的差异特征， 确定所述检测结果， 所述 预设超晶板图像为附着有完整底漆的模板超晶板对应的图像。 2.根据权利要求1所述的超晶板底漆检测方法， 其特征在于， 所述将所述目标图像输入 至底漆检测模型， 得到所述底漆检测模型输出的所述待检测超晶板上是否附着有底漆的检 测结果， 具体包括： 将所述目标图像输入至所述底漆检测模型的第 一路特征提取结构， 得到所述第 一路特 征提取结构输出的所述目标图像中的第一图像特 征； 将所述第一图像特征以及由所述底漆检测模型的第二路特征提取结构确定的所述预 设超晶板图像中的第二图像特征输入至所述底漆检测模型的差异特征计算层， 得到所述差 异特征计算层输出的所述差异特 征； 将所述差异特 征输入至特 征解析层， 得到所述检测结果。 3.根据权利要求2所述的超晶板底漆检测方法， 其特征在于， 所述第 一路特征提取结构 以及所述第二路特征提取结构均仅包括单分支单元； 所述底漆检测模型基于如下步骤训练 得到： 基于所述超晶板图像样本， 对初始模型进行训练， 得到备选模型； 所述备选模型包括第 一路备选特征提取结构、 第二路备选特征提取结构、 所述差异特征计算层以及所述特征解 析层； 所述第一路备选特征提取结构以及所述第二路备选特征提取结构均包括多分支单 元； 在所述第一路备选特征提取结构中的多分支单元内以及所述第二路备选特征提取结 构中的多分支单元内分别进行线性组合， 得到所述第一路特征提取结构以及所述第二路特 征提取结构。 4.根据权利要求3所述的超晶板底漆检测方法， 其特征在于， 所述第 一路备选特征提取 结构中的多分支单元以及所述第二路备选特征提取结构中的多分支单元均包括卷积核大 小不同的多个卷积层以及残差连接层， 所述多个卷积层分别与所述残差连接层连接； 所述在所述第一路备选特征提取结构中的多分支单元内以及所述第二路备选特征提 取结构中的多分支单元内分别进 行线性组合， 得到所述第一路特征提取结构以及所述第二 路特征提取结构， 具体包括： 对于所述第一路备选特征提取结构或所述第二路备选特征提取结构中的任一多分支 单元， 将所述任一多分支单元中的多个卷积层转化成卷积核大小相同的多个目标卷积层， 将所述任一多分支单元中的残差连接层转换成模板矩阵大小与每个目标卷积层的卷积核 大小相同的均值滤波器， 并将所述多个目标卷积层与所述均值滤波器相加， 得到所述第一 路特征提取结构或所述第二路特 征提取结构。 5.根据权利要求1 ‑4中任一项所述的超晶板底漆检测方法， 其特征在于， 所述超晶板图 像样本包括真实超晶板图像样本以及合成超晶板图像样本， 所述真实超晶板图像样本包括权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115222737 A 2纯色的第一真实超晶板图像样本以及带有纹理的第二真实超晶板图像样本， 所述合成超晶 板图像样本包括颜色合成超晶板图像样本以及纹 理合成超晶板图像样本； 所述颜色合成超晶板图像样本基于对所述第一真实超晶板图像样本中的第一超晶板 区域进行颜色抖动得到， 所述纹理合成超晶板图像样本基于对所述第二真实超晶板图像样 本中的第二超晶板区域的纹理特征与所述颜色合成超晶板图像样本中的第三超晶板区域 进行融合得到 。 6.根据权利要求5所述的超晶板底漆检测方法， 其特征在于， 所述纹理合成超晶板图像 样本基于如下步骤确定： 在所述颜色合成超晶板 图像样本中的背景区域上， 基于预设比例， 将所述纹理特征与 所述第三超晶板区域进行融合， 得到初步融合结果； 对所述初步融合结果进行导向滤波， 得到所述纹 理合成超晶板图像样本 。 7.根据权利要求5所述的超晶板底漆检测方法， 其特征在于， 所述纹理特征基于局部二 值模式算法提取 得到。 8.一种超晶板底漆 检测装置， 其特 征在于， 包括： 图像获取模块， 用于获取待检测超晶板的目标图像； 底漆检测模块， 用于将所述目标图像输入至底漆检测模型， 得到所述底漆检测模型输 出的所述待检测超晶板上 是否附着有底漆的检测结果； 其中， 所述底漆检测模型基于携带有底漆标签的超晶板 图像样本训练得到， 所述底漆 检测模型用于基于所述 目标图像与预设超晶板图像的差异特征， 确定所述检测结果， 所述 预设超晶板图像为附着有完整底漆的模板超晶板对应的图像。 9.一种电子设备， 包括存储器、 处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运 行的计算机程序， 其特征在于， 所述处理器执行所述程序时实现如权利要求 1‑7中任一项 所 述的超晶板底漆 检测方法。 10.一种非暂态计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算 机程序被处 理器执行时实现如权利要求1 ‑7中任一项所述的超晶板底漆 检测方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115222737 A 3