ICS 31. 080. 1 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.1—2006/IEC 60749-1:2002 部分代替GB/T4937—1995 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods- Part 1 :General (IEC 60749-1:2002,IDT) 2006-08-23发布 2007-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会

GB-T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分总则

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