GB-T 42968.2-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

ICS 31.200 GB CCS L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T 42968.2—2024/IEC 62132-2:2010 集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 Integrated circuitsMeasurement of electromagnetic immunity- Part 2 : Measurement of radiated immunityTEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2 :2010,IDT) 2024-10-26 发布 2024-10-26实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T42968.2—2024/IEC62132-2:2010 次目前言 III 引言 1 范围规范性引用文件 2 术语和定义 3 4 概述试验条件 5 试验设备 6 6.1 通则 6.2 电缆 6.3 RF骚扰源· 6.4 TEM小室 6.5 GTEM小室 6.6 502终端 6.7 DUT监测设备 7试验布置 7.1 通则 7.2 试验布置 7.3 EMC试验板 8试验程序 8.1 通则 8.2抗扰度测量 9试验报告附录A（规范性）场强特性测量程序附录B(资料性) TEM小室和GTEM小室描述参考文献 7

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